改善QTOF MS/MS 占空比问题
- >90% 的离子注入 TOF
- 使用 Zeno trap技术可将灵敏度提高高达 5-20 倍
- 鉴定和定量低丰度离子
在 Zeno™ trap(Zeno阱)与 EAD 碎裂 技术相结合的强大功能的驱动下,这种以碎片为中心的创新使系统的灵敏度有了很大的提高,使您能够发现全新的质谱信息以确保结果的可靠性,从而更快地做出更明智的决策。
在每次实验中检测多达 20 倍以上的离子,并使用一系列可调谐的碎裂技术,为每次实验中的每个分子开启新的视角。
Zeno trap和EAD作为 MS/MS 灵敏度和碎裂技术的阶段性飞跃的强大组合。 它们共同提供了获取所需的关键 MS/MS 信息的能力:
质谱碎裂技术的一次变革
EAD 允许在一个设备中使用一系列基于自由电子的碎裂机制。 在 EAD 实验中调节电子能量的能力将该方法的实用性扩展到所有分子类型,从单电荷小分子到大分子的多电荷蛋白质。
基于蛋白质的治疗药物具有丰富多样的结构。 这些修饰存在于复杂的异质混合物中。
CID 已被广泛用于确定生物分子的结构,但是大分子的表征必须通过进一步的样品处理(例如:酶解消化)
低能量 EAD 碎裂能够直接通过“自上而下(top down)”的方法表征完整的生物分子,使研究人员能够快速鉴定和确认关键结构属性。
技术说明:定性灵活性与定量能力相结合当调整到更高的能量时,EAD 能够将翻译后修饰的肽(如磷酸化肽和糖肽)片段化,同时保留用于 PTMs鉴定和定位的关键 MS/MS 信息。 与其他基于电子的碎裂技术不同,这可以结合系统的快速扫描速度以可重复、高度一致性的方式实现。
EAD 技术带来了新的视角,并完善了生物分子表征的图景。 EAD碎裂模式为大分子多电荷的碎裂产生那些不同的 C 和 Z 离子,可以获得重要的新视角。
技术说明:一种新的电子活化解离 (EAD) 技术用于治疗性蛋白质药物的综合糖肽分析 技术说明:可调电子活化解离 (EAD) MS/MS 以保留特别不稳定的翻译后修饰小分子的 CID 碎裂会产生有限的以及非特异性的 MS/MS 信息,从而给定量分析的方法开发带来鉴定或缺乏特异性方面的挑战。
高能 EAD 碎裂可以产生关于小分子(如内源性代谢物或药物代谢产物)的高度特异性 MS/MS 信息。 这实现了自信、明确的鉴定和基于 MS/MS 的高度特异性定量。
技术说明:采用电子活化解离 (EAD) 在一次实验中完成脂质的结构解析离子在被快速脉冲进入 TOF 之前在 Zeno trap中积累,这意味着我们可以检测多达 20 倍的离子。
因此,每个 TOF 实验都包含更多有用的 MS/MS 信息,特别是关于以前无法检测到的低丰度物质,为我们的客户带来了新的灵敏度革命。
Zeno trap关
Zeno trap开
你在这个场景中,可查看 Zeno trap技术对该交互式图形的影响。
新鲜的视角和确定性。
罕见数据的新深度。
高灵敏度和特异性。
EAD 技术允许您微调电子能量,实现可应用于大分子、多肽、脂质和小分子的多种碎裂机制。
永久数据集。SWATH®采集提供全面的数据非依赖型采集(DIA),可用于定量样本中的每个被采集到信号的化合物。
Zeno trap(Zeno阱)根据检测需求检测较低丰度离子,同时保证精确质量质谱可实现的定量极限。
先进的离子源设计,减少污染可能性,更大限度地提高正常运行时间并增强可用性功能,沿袭Turbo V™离子的简洁工业设计。与校正传输系统相结合,实现跨流速范围的快速、自动校正。
可靠和耐用的台式高分辨质谱系统。所需的实验室空间非常少,在节省实验室放置空间方面具有优势。
在 SCIEX OS 质谱软件的支持下,直观的算法和自动处理数据的能力,使您能够快速做出明智的决定。以卓越的定量性能、更高的效率和数据完整性,重新定义您的 LC-MS/MS 工作流程。.
功能强大,用途广泛,专为定性和定量工作流程提供增强的性能。
专为全新校准解决方案,该解决方案可实现自动化质量校正,并在整个采集过程中保持系统的质量精度。
先进的离子源设计,减少污染可能性,更大限度地提高正常运行时间并增强可用性功能,沿袭Turbo V™离子的简洁工业设计。与校正传输系统相结合,实现跨流速范围的快速、自动校正。
可靠和耐用的台式高分辨质谱系统。所需的实验室空间非常少,在节省实验室放置空间方面具有优势。
在 SCIEX OS 质谱软件的支持下,直观的算法和自动处理数据的能力,使您能够快速做出明智的决定。以卓越的定量性能、更高的效率和数据完整性,重新定义您的 LC-MS/MS 工作流程。.
功能强大,用途广泛,专为定性和定量工作流程提供增强的性能。
专为全新校准解决方案,该解决方案可实现自动化质量校正,并在整个采集过程中保持系统的质量精度。
订购校正标准品灵活可调的电子活化解离(EAD)能量。 EAD 允许在一个系统中使用一系列基于自由电子的碎裂机制。
N型飞行时间离子路径设计可提供更佳质量精度和分辨率,而不会影响灵敏度。
TOF 管恒温技术
质量范围:TOF模式 40 至 40 kDa
分辨率:≥42000(m/z 957)
MS/MS 速度:133 Hz
质量精度:外标法<2 ppm RMS,内标法<1 ppm RMS
正负模式的线性动态范围:>5个数量级
极大地提高了MS/MS占空比,MS/MS灵敏度提高了 5-20 倍,同时保证EAD或 CID 碎裂功能。
改进的离子光学设计用于离子捕获和传输,易于维护。
高频率碰撞室在离子进入 TOF 之前聚焦离子,提供更好的离子传输、更高的占空比和更高的分辨率。
灵活可调的电子活化解离(EAD)能量。 EAD 允许在一个系统中使用一系列基于自由电子的碎裂机制。
N型飞行时间离子路径设计可提供更佳质量精度和分辨率,而不会影响灵敏度。
TOF 管恒温技术
质量范围:TOF模式 40 至 40 kDa
分辨率:≥42000(m/z 957)
MS/MS 速度:133 Hz
质量精度:外标法<2 ppm RMS,内标法<1 ppm RMS
正负模式的线性动态范围:>5个数量级
改进的离子光学设计用于离子捕获和传输,易于维护。
极大地提高了MS/MS占空比,MS/MS灵敏度提高了 5-20 倍,同时保证EAD或 CID 碎裂功能。
高频率碰撞室在离子进入 TOF 之前聚焦离子,提供更好的离子传输、更高的占空比和更高的分辨率。
SCIEX Turbo V 离子源采用优化的离子源设计,可限制污染以更大程度地延长正常运行时间,并提供高灵敏度和较宽的流速范围(5 µL/min- 3 mL/min) ,同时可快速更换APCI 和 ESI模式,提高 化合物类别覆盖度。
您所期望的 Turbo V 离子源传统分析流程的稳健性和简单性现在可以在您的高灵敏度微流工作流程中体验到。 智能探头和喷针设计消除了手动调整,并更大限度地减少了 1 -200 µL/min 工作流程的离子源优化。
独特地设计允许用户切换到纳升模式以获得更高灵敏度。 简单、即插即用的纳升流速模块消除了纳升喷雾应用的麻烦。 集成的柱温箱、纳升流速探头和喷针可以轻松设置应用纳升流速,无需优化。
我们的目标是在我们仪器的几乎所有应用中为您提供全方位的支持,帮助您充分利用您的实验室资源和资产。 借助 SCIEX Now™支持网络,更大限度地提高您的工作效率、延长正常运行时间并提高结果质量——这是可以为您的实验室提供所有支持的团队。
SCIEX Now™学社 成功计划提供定制的液质和毛细管电泳培训,以满足您的确切需求。
通过一系列可用的培训方法和认证,您可以构建适合您的实验室和用户的质谱计划。
从清楚了解您想要的学习成果开始,我们旨在通过设计和提供一个专注于知识进步和保留的计划来帮助您提高实验室生产力和一致性。